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慧荣SM2246EN主控如何进行RDT测试开卡

2024-07-14 12:51| 来源: 网络整理| 查看: 265

1、将固态硬盘通过USB转SATA连接器插入电脑USB口,打开开卡固件,点击①处,SCAN扫描到固态硬盘;点击②处,进行开卡固件的配置。

2、点击③处,编辑固件属性配置;在弹出窗口④处输入两个空格(密码为两个空格),然后点击OK键,进入属性可编辑界面。

 3、属性可编辑界面⑤处即为需要设定的RDT参数设置窗口,其中RDT Hours 为RDT测试的时间,一般选择Disable即可,不规定其测试的时间;RDT Loops 为RDT测试的循环次数,这个按照你需要进行测试次数来进行选择即可,一般选择的次数越多测试的时间越长(相对于固态硬盘的容量来说,容量越大,单次测试完的时间越长);RDT ECC TH 为RDT测试的纠错位数,一般选择越小,RDT测试通过率越低;ECC表示RDT测试时出现坏块的报错阈值;其他的选项保持默认设置即可。

4、点击可编辑属性界面⑥处在弹出的属性框中选择ISP2246SelfTest.bin文件。

5、在可编辑属性界面⑧处三角下拉框中选择0. Reference Original Bad (参考原始坏块)。

 6、点击可编辑属性界面⑨处,回到初始界面。

 7、点击可编辑属性界面END处Start进行RDT测试开卡。

8、开卡完成后,取下插入电脑的USB口,将其插入充电器USB口或者驱动能力较强的USB设备口,静候几十秒钟后,固态硬盘的读写指示灯闪烁即为正常RDT测试中;如没有RDT指示灯,几分钟后触摸颗粒表面或主控表面,看是否发热,发热表示正常RDT测试中。

9、RDT测试完成后(读写指示灯不闪烁或者不发热),改回原来的配置,参考运行坏块进行开卡即可!



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